Metaloznawstwo Głowacka Maria

Podstrony

[ Pobierz całość w formacie PDF ]
.Każda cząstka takiego proszku jest drobnym kryształem dowolnie zorientowa-nym względem wiązki pierwotnej.Istnieje więc prawdopodobieństwo, że każdarodzina płaszczyzn sieciowych będzie mogła dać odpowiedni refleks.W metodzie Debye'a-Scherrera (rys.5.5) cylindryczny pasek błony foto-graficznej otacza preparat umieszczony na osi, a wiązka pierwotna pada podkątem prostym do tej osi.W preparacie polikrystalicznym liczba kryształówzorientowanych w ten sposób, że dla danej rodziny płaszczyzn spełnione jestprawo Bragga, jest tak duża, że płaszczyzny te tworzą praktycznie ciągły stożekpromieni ugiętych o stałym kącie wierzchołkowym 2� wokół kierunku86padania wiązki pierwotnej.Stożki przecinają cylindryczny pasek błony tworząclinie, które po rozwinięciu tego paska dają obraz przedstawiony na rysunku5.5.Są to przeważnie linie krzywe, wyjątkiem są linie, dla których 2� = 90�i te są liniami prostymi.Znając położenie danej linii dyfrakcyjnej na błoniefotograficznej można określić kąt �, a znając � można obliczyć odległośćmiędzypłaszczyznową d odbijających płaszczyzn sieciowych.Metoda proszkowa jest bardzo wygodna, ponieważ nie wymaga użyciamonokryształu.Jest ona szczególnie pożyteczna przy oznaczaniu z dużądokładnością stałych sieciowych oraz przy identyfikacji faz i produktówkorozji.a)b)Rys.5.5.a) Schemat metody proszkowej Debye'a-Scherrera.b) debejogram ZnS.Odfiltrowanepromieniowanie anody miedzianej, 30 kV, 14 mANowsze urządzenia zwane dyfraktometrami rentgenowskimi pozwalająna automatyczne kreślenie zależności natężenia ugiętej wiązki promieniowaniaod kąta ugięcia.Eliminuje to konieczność obróbki fotograficznej radiogra-mów i wykonania pomiarów fotometrycznych.Dyfraktometr zbudowany jestpodobnie jak kamera Debye'a-Scherrera z tą różnicą, że pasek błony foto-graficznej zastępuje ruchomy licznik.Zadaniem licznika jest przetwarzaniesygnału, jakim jest natężenie ugiętej wiązki promieniowania rentgenowskiego,na impulsy elektryczne.Licznik obraca się ze stałą prędkości kątową wokółbadanego preparatu w kierunku wzrastających wartości 20 tak długo, aż całyzakres kątowy będzie przebadany.W tym samym czasie papier na samopisie87Rys.5.6.Dyfiraktogram spinelu CuCr2SSe3 otrzymany metodą Debye'a-Scherreraporusza się ze stalą prędkością tak, że odległości mierzone wzdłuż papierusą proporcjonalne do 2�.W wyniku tego otrzymuje się wykres taki jakna rysunku 5.6.5.3.Badania mikroskopoweBadania mikroskopowe polegają na obserwacji odpowiednio przygotowa-nej powierzchni próbki materiału za pomocą mikroskopu metalograficznegoprzy powiększeniach 50�2500x.Przygotowanie do badań mikroskopowychpolega na wyszlifowaniu i wypolerowaniu badanej powierzchni próbki Takprzygotowaną powierzchnię nazywa się zgładem metalograficznym.Obserwa-cje pod mikroskopem przeprowadza się zarówno na zgładach nietrawionych,jak i trawionych specjalnymi odczynnikami.W pierwszym przypadku badaniamikroskopowe mają na celu: określenie wielkości, ilości i rozmieszczeniawszelkiego rodzaju wtrąceń niemetalicznych, wykrycie drobnych pęcherzygazowych, mikropęknięć itd.Obserwacje zgładów trawionych pozwalajązidentyfikować: strukturę badanego materiału, rodzaj i ilość poszczególnychfaz, kształt i wielkość ziarn, grubość warstwy zahartowanej, odwęglonej lubochronnej itd.Wyniki obserwacji zależą w dużym stopniu od przygotowaniazgładu metalograficznego.Przygotowanie to składa się z następujących posobie czynności: pobranie próbki, szlifowanie, polerowanie i trawienie jejpowierzchni.Pobieranie próbki Próbki do badań mikroskopowych pobiera się w spo-sób zapewniający pełny i poprawny obraz struktury w całym badanymprzedmiocie.Wybór miejsc charakterystycznych powinien być poprzedzony88badaniami makroskopowymi.Miejscami takimi mogą być np.: fragmentynajwięcej lub najmniej odkształcone, względnie takie, w których materiałw ogóle nie podlegał deformacji.Jeżeli przedmioty były odrobione cieplne,zgłady wykonuje się z powierzchni i rdzenia.W przypadku analizowaniaprzyczyn zniszczenia elementów maszyn zgłady metalograficzne wykonuje sięna próbkach pobranych z miejsc w pobliżu pęknięcia, jak i oddalonych, copozwala na uchwycenie ewentualnych nieprawidłowości strukturalnych ma-teriału.W zależności od usytuowania powierzchni zgładu względem osi próbkipokrywającej się zazwyczaj z kierunkiem obróbki w stopach przerobionychplastycznie wyróżnia się zgłady podłużne, poprzeczne i skośne.Te ostatnieznajdują zastosowanie podczas badania struktury cienkich warstw dyfuzyj-nych, powłok galwanicznych itp.Podczas wycinania próbek nie mogą nastąpićżadne zmiany struktury materiału, wywołane miejscowym odkształceniemlub nagrzaniem.Materiały miękkie wycina się zwykłą piłką, natomiast twarde(np [ Pobierz całość w formacie PDF ]

zanotowane.pl

doc.pisz.pl

pdf.pisz.pl

bezglutenowo.pev.pl